T3Ster热阻测试仪

T3Ster热阻测试仪

产品描述：

    T3Ster是Mentor Graphics公司研发制造的先进的热瞬态测试仪，用于测试IC、LED、散热器、热管等电子器件的热特性。T3Ster基于先进的JEDEC ‘Static Method’测试方法（JESD51-1），通过改变电子器件的输入功率，使得器件产生温度变化，在变化过程中，T3Ster测试出芯片的瞬态温度响应曲线，仅在几分钟之内即可分析得到关于该电子器件的全面的热特性。

    T3Ster测试技术不是基于“脉冲方法”的热测试仪，“脉冲方法”由于是基于延时测量的技术所以其测出的温度瞬态测试曲线精度不高，而T3Ster 采用的是“运行中”的实时测量的方法，结合其精密的硬件可以快速精确扑捉到高信噪比的温度瞬态曲线。


T3Ster 的应用范围及功能

★应用范围:

? 各种三极管、二极管等半导体分立器件，包括：常见的半导体闸流管、
双较型晶体管、以及大功率 IGBT、MOSFET、LED 等器件；
? 各种复杂的 IC 以及 MCM、SIP、SoC 等新型结构 ；
各种复杂的散热模组的热特性测试，如热管、风扇等 。

★功能：
? 半导体器件结温测量；
? 半导体器件稳态热阻及瞬态热阻抗测量；
? 半导体器件热阻和热容测量，给出器件的热阻热容结构（RC 网络结构）；
? 半导体器件封装内部结构分析，包括器件封装内部每层结构（芯片+焊接层+热沉等）的热阻和热容参数；
? 半导体器件老化试验分析和封装缺陷诊断，帮助用户准确定位封装内部的缺陷结构。
? 材料热特性测量（导热系数和比热容） 
? 接触热阻测量，包括导热胶、新型热接触材料的导热性能测试。